• Treffer 15 von 32
Zurück zur Trefferliste

Organic Depth Profiling using large Argon Cluster Ion Beams

Metadaten exportieren

Weitere Dienste

Teilen auf Twitter Suche bei Google Scholar Anzahl der Zugriffe auf dieses Dokument
Metadaten
Autor*innen:Markus Holzweber
Koautor*innen:H. Jungnickel, Wolfgang Unger
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Deutsch
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch):15th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis 2013 (ECASIA)
Jahr der Erstveröffentlichung:2013
Veranstaltung:15th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis 2013 (ECASIA)
Veranstaltungsort:Forte Village Resort, Italia
Beginndatum der Veranstaltung:2013-10-13
Enddatum der Veranstaltung:2013-10-18
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:20.02.2016
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
Einverstanden
Diese Webseite verwendet technisch erforderliche Session-Cookies. Durch die weitere Nutzung der Webseite stimmen Sie diesem zu. Unsere Datenschutzerklärung finden Sie hier.