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Measurement of Lateral Size of Graphene Oxide Flakes by SEM - An Update of the VAMAS TWA 41 Project P13

  • The progress of the VAMAS interlaboratory comparison Project P13 "Lateral size of graphene oxide flakes by SEM" within the Technical Working Area 41 "Graphene and Related 2D Materials" is presented. The challenges at sample preparation on substrates for accurate measurement and image analysis as well as two different analysis approaches, containing exact guidance how to measure the main descriptors for the lateral size measurement of the imaged graphene oxide flakes with Scanning Electron Microscopy are highlighted. The implementation of the results into the corresponding ISO technical specification AWI/TS 23879 is also discussed and planned, in relation with the AFM part.

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  • Update VAMAS TWA41 ILC P13_ISOTC229_DHodoroaba.pdf
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Autor*innen:Vasile-Dan HodoroabaORCiD
Koautor*innen:Giovanni Chemello, Jörg Radnik
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Jahr der Erstveröffentlichung:2023
Organisationseinheit der BAM:6 Materialchemie
6 Materialchemie / 6.1 Oberflächen- und Dünnschichtanalyse
DDC-Klassifikation:Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten
Freie Schlagwörter:Graphene oxide flakes; ISO/TC 229 Nanotechnologies; Interlaboratory comparison; SEM; VAMAS
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM:Material
Material / Nano
Veranstaltung:The 32nd ISO/TC 229 IEC/TC 113 JWG2 General Meeting
Veranstaltungsort:Berlin, Germany
Beginndatum der Veranstaltung:06.11.2023
Enddatum der Veranstaltung:10.11.2023
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:14.11.2023
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
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