Instrumental performance parameters for specification and check of energy dispersive X-ray spectrometers as in the international standard ISO 15632
- Simple procedures for specifying and checking the performance of energy dispersive X-ray spectrometers (EDS) have been since 2002 available in form of the international standard ISO 15632:2002 [1]. When specifying their spectrometers all major EDS manufacturers refer meanwhile to this standard. Main spectrometer parameters such as energy resolution can be determined as recommended in there. Just several years ago the Si-Li detector has been the mostly widespread type of detector. Since four-five years, silicon drift detector (SDD) EDS providing comparable (in many cases even better) energy resolutions at much higher count rates than the conventional Si-Li’s have got the breakthrough on the market.
MetadatenAutor*innen: | Vasile-Dan HodoroabaORCiD |
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Dokumenttyp: | Zeitschriftenartikel |
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Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
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Sprache: | Englisch |
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Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Microscopy and microanalysis |
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Jahr der Erstveröffentlichung: | 2011 |
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Herausgeber (Institution): | Microscopy Society of America |
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Verlag: | Cambridge University Press |
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Verlagsort: | New York, NY |
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Jahrgang/Band: | 17 |
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Ausgabe/Heft: | Suppl. 2 |
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Erste Seite: | 614 |
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Letzte Seite: | 615 |
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Freie Schlagwörter: | (mu-)XRF; ED-EPMA; EDX; WD-EPMA |
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DOI: | 10.1017/S1431927611003941 |
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ISSN: | 1431-9276 |
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ISSN: | 1435-8115 |
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Verfügbarkeit des Dokuments: | Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access") |
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Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
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Referierte Publikation: | Ja |
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Datum der Eintragung als referierte Publikation: | 22.10.2012 |
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