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Characterization of polycapillary X-ray semilenses with SEM/EDX

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Metadaten
Autor*innen:Vanessa Rackwitz, M. Procop, Vasile-Dan HodoroabaORCiD
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Microscopy and microanalysis
Jahr der Erstveröffentlichung:2010
Herausgeber (Institution):Microscopy Society of America
Verlag:Cambridge University Press
Verlagsort:New York, NY
Jahrgang/Band:16
Ausgabe/Heft:Suppl 2
Erste Seite:932
Letzte Seite:933
Freie Schlagwörter:Acceptance area; EDS; FWHM; Focal distance; Parallelising mode; Polycapillary X-ray optics; SEM; Semi-lens; Transmission; XRF
DOI:10.1017/S1431927610054280
ISSN:1431-9276
ISSN:1435-8115
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:Sonderstandort: Publica-Schrank
Datum der Freischaltung:20.02.2016
Referierte Publikation:Ja
Datum der Eintragung als referierte Publikation:03.12.2012
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