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New Development of Surface Analysis from a Standpoint of Users (1)DS"rf-GDOES" responding to needs for short time, high accuracy, diversified regions, and low cost

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Autor*innen:K. Shimizu, H. Habaki, Thomas Wirth, Vasile-Dan HodoroabaORCiD
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Japanisch
Titel des übergeordneten Werkes (Japanisch):Kogyo Zairyo (Engineering Materials)
Jahr der Erstveröffentlichung:2004
Herausgeber (Institution):Industrial Daily News Ltd.
Verlag:Nikkan kogyo shinbunsha
Verlagsort:Tokyo
Jahrgang/Band:52
Ausgabe/Heft:8
Erste Seite:72
Letzte Seite:75
Freie Schlagwörter:Atomic beam spectroscopy; Cathode sputtering; Emission analysis; Emission spectroscopy
ISSN:0452-2834
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:Sonderstandort: Publica-Schrank
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
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