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X-ray refraction - new methods for non-destructive evaluation of advanced materials

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Autor*innen:Karl-Wolfram Harbich, Jörg Schors, Axel Lange, Manfred P. Hentschel
Persönliche Herausgeber*innen:D. van Hemelrijck
Dokumenttyp:Beitrag zu einem Sammelband
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Emerging technologies in NDT
Jahr der Erstveröffentlichung:2000
Verlag:Balkema
Verlagsort:Rotterdam
Erste Seite:207
Letzte Seite:212
Freie Schlagwörter:X-ray refraction
Veranstaltung:2nd International Conference on Emerging Technologies in NDT
Veranstaltungsort:Athens, Greece
Beginndatum der Veranstaltung:1999-05-24
Enddatum der Veranstaltung:1999-05-26
ISBN:90-5809-127-9
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
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