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NDE of micro structured materials by X-ray diffraction and refraction topography

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Autor*innen:Manfred P. Hentschel
Koautor*innen:Axel Lange, Karl-Wolfram Harbich, Jörg Schors, Oliver Wald, Bernd R. Müller
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):SPIE 9th Internat. Symp. NDE for Health Monitoring and Diagnostics
Jahr der Erstveröffentlichung:2004
Veranstaltung:SPIE 9th Internat. Symp. NDE for Health Monitoring and Diagnostics
Veranstaltungsort:San Diego, CA, USA
Beginndatum der Veranstaltung:2004-03-15
Enddatum der Veranstaltung:2004-03-17
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
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