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Micro-diagnostics: X-ray and synchrotron techniques

  • Beyond classical X-ray techniques are used for the purpose of preferably short-term applications, but some supplementary X-ray and synchrotron techniques for higher resolution microdiagnostics take advantage of scattering effects. In contrast to directly imaging methods their resolution is only limited by the diffraction limit of the X-ray wavelength, far below the atomic dimensions. These techniques of scanning topography and refraction synchrotron tomography may permit the systematic diagnostics for finding and exploiting structure/property relations like correlations among atomic, nano and microstructures with macroscopic properties. Their basic advantage over microscopic techniques is their potential for the non-destructive characterisation of materials, far from invasive sample treatments. They combine scattering and spatial resolution.

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Autor*innen:Bernd R. MüllerORCiD, Manfred P. Hentschel
Persönliche Herausgeber*innen:Horst Czichos
Dokumenttyp:Buchkapitel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Handbook of technical diagnostics - Fundamentals and application to structures and systems
Jahr der Erstveröffentlichung:2013
Verlag:Springer
Verlagsort:Berlin Heidelberg
Ausgabe/Heft:Chapter 14
Erste Seite:287
Letzte Seite:300
Freie Schlagwörter:DEI; Diffraction enhanced imaging; Fibre orientation; Inner surface density; Interfaces; SRCT; Synchrotron radiation; Synchrotron refraction computed tomography; USAXS; WAXS; Wide angle X-ray scattering; X-ray; X-ray diffraction microscopy; X-ray refraction; X-ray refraction tomography; X-ray refraction topography; X-ray scattering
DOI:10.1007/978-3-642-25850-3_14
ISBN:978-3-642-25849-7
ISBN:978-3-642-25850-3
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:20.02.2016
Referierte Publikation:Nein
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