MetadatenAutor*innen: | Bernd R. MüllerORCiD, Manfred P. Hentschel |
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Persönliche Herausgeber*innen: | Horst Czichos |
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Dokumenttyp: | Buchkapitel |
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Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
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Sprache: | Englisch |
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Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Handbook of technical diagnostics - Fundamentals and application to structures and systems |
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Jahr der Erstveröffentlichung: | 2013 |
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Verlag: | Springer |
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Verlagsort: | Berlin Heidelberg |
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Ausgabe/Heft: | Chapter 14 |
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Erste Seite: | 287 |
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Letzte Seite: | 300 |
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Freie Schlagwörter: | DEI; Diffraction enhanced imaging; Fibre orientation; Inner surface density; Interfaces; SRCT; Synchrotron radiation; Synchrotron refraction computed tomography; USAXS; WAXS; Wide angle X-ray scattering; X-ray; X-ray diffraction microscopy; X-ray refraction; X-ray refraction tomography; X-ray refraction topography; X-ray scattering |
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DOI: | 10.1007/978-3-642-25850-3_14 |
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ISBN: | 978-3-642-25849-7 |
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ISBN: | 978-3-642-25850-3 |
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Verfügbarkeit des Dokuments: | Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access") |
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Datum der Freischaltung: | 20.02.2016 |
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Referierte Publikation: | Nein |
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