Characterization of metal matrix composites by synchrotron refraction computed topography
Autor*innen: | Bernd R. MüllerORCiD, Axel Lange, Michael Harwardt, Manfred P. Hentschel |
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Dokumenttyp: | Zeitschriftenartikel |
Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
Sprache: | Englisch |
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Materials science forum |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2010 |
Verlag: | Trans Tech Publications |
Verlagsort: | Aedermannsdorf, Switzerland |
Jahrgang/Band: | 638-642 |
Erste Seite: | 967 |
Letzte Seite: | 972 |
Freie Schlagwörter: | Analyzer based imaging; Computed tomography; Diffraction enhanced imaging; Metal matrix composites; Refraction; Synchrotron radiation |
DOI: | 10.4028/www.scientific.net/MSF.638-642.967 |
ISSN: | 0255-5476 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access") |
Bibliotheksstandort: | Sonderstandort: Publica-Schrank |
Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
Referierte Publikation: | Ja |
Datum der Eintragung als referierte Publikation: | 03.12.2009 |