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Characterization of metal matrix composites by synchrotron refraction computed topography

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Autor*innen:Bernd R. MüllerORCiD, Axel Lange, Michael Harwardt, Manfred P. Hentschel
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Materials science forum
Jahr der Erstveröffentlichung:2010
Verlag:Trans Tech Publications
Verlagsort:Aedermannsdorf, Switzerland
Jahrgang/Band:638-642
Erste Seite:967
Letzte Seite:972
Freie Schlagwörter:Analyzer based imaging; Computed tomography; Diffraction enhanced imaging; Metal matrix composites; Refraction; Synchrotron radiation
DOI:10.4028/www.scientific.net/MSF.638-642.967
ISSN:0255-5476
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:Sonderstandort: Publica-Schrank
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Ja
Datum der Eintragung als referierte Publikation:03.12.2009
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