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Refraction enhanced micro-CT for non-destructive materials characterization

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Autor*innen:Bernd R. MüllerORCiD, Axel Lange, Michael Harwardt, Manfred P. Hentschel
Persönliche Herausgeber*innen: Paul Sellin
Dokumenttyp:Beitrag zu einem Sammelband
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):IEEE Nuclear Science Symposium, October 19-25, 2008, Dresden
Jahr der Erstveröffentlichung:2008
Herausgeber (Institution):Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Erste Seite:541
Letzte Seite:546
Freie Schlagwörter:Micro-CT; Refraction; Synchrotron
Veranstaltung:IEEE Nuclear Science Symposium
Veranstaltungsort:Dresden, Germany
Beginndatum der Veranstaltung:2008-10-19
Enddatum der Veranstaltung:2008-10-25
ISSN:1082-2654
ISBN:978-1-4244-2715-4
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:Sonderstandort: Publica-Schrank
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
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