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X-Ray Diffraction Topography images materials by molecular probe

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Metadaten
Autor*innen:Manfred P. Hentschel
Koautor*innen:Axel Lange, Jörg Schors
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):10th SPIE Intern. Symp. "Nondestructive Evaluation for Health Monitoring and Diagnostics"
Jahr der Erstveröffentlichung:2005
Veranstaltung:10th SPIE Intern. Symp. "Nondestructive Evaluation for Health Monitoring and Diagnostics"
Veranstaltungsort:San Diego, CA, USA
Beginndatum der Veranstaltung:2005-03-08
Enddatum der Veranstaltung:2005-03-10
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
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