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A setup for synchrotron-radiation-induced total reflection X-ray fluorescence and X-ray absorption near-edge structure recently commissioned at BESSY II BAMline

  • An automatic sample changer chamber for total reflection X-ray fluorescence (TXRF) and X-ray absorption near-edge structure (XANES) analysis in TXRF geometry was successfully set up at the BAMline at BESSY II. TXRF and TXRF-XANES are valuable tools for elemental determination and speciation, especially where sample amounts are limited (<1 mg) and concentrations are low (ng ml⁻¹ to μg ml⁻¹). TXRF requires a well defined geometry regarding the reflecting surface of a sample carrier and the synchrotron beam. The newly installed chamber allows for reliable sample positioning, remote sample changing and evacuation of the fluorescence beam path. The chamber was successfully used showing accurate determination of elemental amounts in the certified reference material NISTwater 1640. Low limits of detection of less than 100 fg absolute (10 pg ml⁻¹) for Ni were found. TXRF-XANES on different Re species was applied. An unknown species of Re was found to be Re in the +7 oxidation state.

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Autor*innen:U. Fittschen, Ana de Oliveira Guilherme BuzanichORCiD, S. Böttger, D. Rosenberg, M. Menzel, W. Jensen, M. Busker, Z. Gotlib, Martin RadtkeORCiD, Heinrich Riesemeier, P. Wobrauschek, C. Streli
Persönliche Herausgeber*innen:Ana de Oliveira Guilherme Buzanich
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Eigenverlag BAM
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Journal of Synchrontron Radiation
Jahr der Erstveröffentlichung:2016
Verlag:International Union of Crystallography
Jahrgang/Band:23
Ausgabe/Heft:3
Erste Seite:820
Letzte Seite:824
DDC-Klassifikation:Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie
Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten
Freie Schlagwörter:BAMline; Re-XANES; Sample changer; TXRF; TXRF-XANES
DOI:10.1107/S1600577516001995
ISSN:1600-5775
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:13.12.2016
Referierte Publikation:Ja
Datum der Eintragung als referierte Publikation:13.12.2016
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