Kikuchi pattern analysis of noncentrosymmetric crystals
- Different models of Kikuchi pattern formation are compared with respect to their applicability to noncentrosymmetric crystals, and the breakdown of Friedel's rule in experimental electron backscatter diffraction (EBSD) patterns is discussed. Different AIIIBV semiconductor materials are used to evaluate the resulting asymmetry of Kikuchi band profiles for polar lattice planes. By comparison with the characteristic etch pit morphology on a single-crystal surface, the polar character of the measured lattice planes can be assigned absolutely. The presented approach enables point-group-resolved orientation mapping, which goes beyond the commonly applied Laue group analysis in EBSD.
Autor*innen: | Gert Nolze, C. Grosse, Aimo Winkelmann |
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Dokumenttyp: | Zeitschriftenartikel |
Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
Sprache: | Englisch |
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Journal of applied crystallography |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2015 |
Herausgeber (Institution): | International Union of Crystallography |
Verlag: | Blackwell |
Verlagsort: | Oxford |
Jahrgang/Band: | 48 |
Erste Seite: | 1405 |
Letzte Seite: | 1419 |
Freie Schlagwörter: | EBSD; Electron backscatter diffraction; Enantiomorphy; polarity; Friedel's rule; Kikuchi patterns; Laue groups; Pattern simulation; Point groups |
DOI: | 10.1107/S1600576715014016 |
ISSN: | 0021-8898 |
ISSN: | 1600-5767 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access") |
Datum der Freischaltung: | 20.02.2016 |
Referierte Publikation: | Ja |
Datum der Eintragung als referierte Publikation: | 12.10.2015 |