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BAM Certified Reference Materials for Nano-metrology: Preparation, Charcterisation and Certification

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Autor*innen:Michael Griepentrog
Koautor*innen:Uwe Beck
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):3rd Annual Conference of the Asia Pacific Nanotechnology Forum (APNF) and 2nd Shanghai International Nanotechnology Cooperation Symposium (SINCS)
Jahr der Erstveröffentlichung:2004
Veranstaltung:3rd Annual Conference of the Asia Pacific Nanotechnology Forum (APNF) and 2nd Shanghai International Nanotechnology Cooperation Symposium (SINCS)
Veranstaltungsort:Shanghai, China
Beginndatum der Veranstaltung:2004-12-09
Enddatum der Veranstaltung:2004-12-12
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
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