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Characterization methods for functionally graded materials

  • In this paper the characterisation of functionally graded materials is elucidated by several different methods. These methods described here are used for the quantitative analysis of materials with a local dependence of microstructure parameters. Using X-ray microscopy (computed tomography) for 3D-measurements and optical microscopy on polished sections for 1D and 2D measurements on the same sample, a ceramic filter consisting of sintered spherical particles, various mathematical evaluation methods are described and compared.

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Autor*innen:G. Tomandl, M. Mangler, D. Stoyan, A. Tscheschel, Jürgen Goebbels, Gerd Weidemann
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Journal of materials science
Jahr der Erstveröffentlichung:2006
Verlag:Springer Science + Business Media B.V.
Verlagsort:Norwell, Mass.
Jahrgang/Band:41
Ausgabe/Heft:13
Erste Seite:4143
Letzte Seite:4151
Freie Schlagwörter:Ceramics; Computed tomography; Functionally graded materials; Optical microscopy; X-ray microscopy
DOI:10.1007/s10853-006-6632-6
ISSN:0022-2461
ISSN:1573-4803
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:Sonderstandort: Publica-Schrank
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Ja
Datum der Eintragung als referierte Publikation:26.10.2006
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