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Enhancement and Proof of Accuracy of Industrial Computed Tomography (CT) Measurements

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Autor*innen:M. Bartscher, U. Hilpert, Jürgen Goebbels, Gerd Weidemann
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):CIRP Annals : Manufacturing technology
Jahr der Erstveröffentlichung:2007
Verlag:Elsevier
Verlagsort:Oxford
Jahrgang/Band:56
Ausgabe/Heft:1
Erste Seite:495
Letzte Seite:498
Freie Schlagwörter:Coordinate Measuring Machine (CMM); Uncertainty; X-ray
ISSN:0007-8506
ISSN:1726-0604
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:Sonderstandort: Publica-Schrank
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Ja
Datum der Eintragung als referierte Publikation:06.09.2007
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