Characterization methods for functionally graded materials
- In this paper the characterisation of functionally graded materials is elucidated by several different methods. These methods described here are used for the quantitative analysis of materials with a local dependence of microstructure parameters. Using X-ray microscopy (computed tomography) for 3D-measurements and optical microscopy on polished sections for 1D and 2D measurements on the same sample, a ceramic filter consisting of sintered spherical particles, various mathematical evaluation methods are described and compared.
Autor*innen: | G. Tomandl, M. Mangler, D. Stoyan, A. Tscheschel, Jürgen Goebbels, Gerd Weidemann |
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Dokumenttyp: | Zeitschriftenartikel |
Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
Sprache: | Englisch |
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Journal of materials science |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2006 |
Verlag: | Springer Science + Business Media B.V. |
Verlagsort: | Norwell, Mass. |
Jahrgang/Band: | 41 |
Ausgabe/Heft: | 13 |
Erste Seite: | 4143 |
Letzte Seite: | 4151 |
Freie Schlagwörter: | Ceramics; Computed tomography; Functionally graded materials; Optical microscopy; X-ray microscopy |
DOI: | 10.1007/s10853-006-6632-6 |
ISSN: | 0022-2461 |
ISSN: | 1573-4803 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access") |
Bibliotheksstandort: | Sonderstandort: Publica-Schrank |
Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
Referierte Publikation: | Ja |
Datum der Eintragung als referierte Publikation: | 26.10.2006 |