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Ellipsometric characterization of doped SnOx layer for gas sensors based on SPREE (surface plasmon resonance enhanced ellipsometry).

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Autor*innen:Daniel Fischer
Koautor*innen:Andreas Hertwig, Uwe Beck, M. Kormunda, N. Esser
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Deutsch
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch):International conference on spectroscopic ellipsometry (ICSE 7)
Jahr der Erstveröffentlichung:2016
Veranstaltung:International conference on spectroscopic ellipsometry (ICSE 7)
Veranstaltungsort:Berlin, Germany
Beginndatum der Veranstaltung:2016-06-06
Enddatum der Veranstaltung:2016-06-10
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:20.02.2016
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
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