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X-ray backscatter radioscopy for security applications with a novel twisted slit collimator

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Autor*innen:Kurt Osterloh, Uwe ZscherpelORCiD, Uwe Ewert
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Micromaterials and nanomaterials
Jahr der Erstveröffentlichung:2009
Herausgeber (Institution):Fraunhofer Institute IZM
Verlag:ddp Goldenbogen
Verlagsort:Dresden
Ausgabe/Heft:10
Erste Seite:22
Letzte Seite:25
Freie Schlagwörter:Kamera für hochenergetische Strahlung; Röntgenrückstreuung
ISSN:1619-2486
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:Sonderstandort: Publica-Schrank
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
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