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Optimizing the visibility of X-ray phase grating interferometry

  • The performance of grating interferometers coming up now for Imaging interfaces within materials depends on the efficiency (visibility) of their main component, namely the phase grating. Therefore, experiments with monochromatic synchrotron radiation and corresponding simulations are carried out. The visibility of a Phase grating is optimized by different photon energies, varying detector to grating distances and continuous rotation of the phase grating about the grid lines. Such kind of rotation changes the projected grating shapes, and thereby the distribution profiles of phase shifts. This yields higher visibilities than derived from ideal rectangular shapes. By continuous grating rotation and variation of the propagation distance, we achieve 2D visibility maps. Such maps provide the visibility for a certain combination of grating orientation and detector position. Optimum visibilities occur at considerably smaller distances than in the standard setup.

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  • Shashev-2017-CSNDT_Optimizing visibility in grating interferometry through continuous rotation of phase gratings_Materials Testing 59_2017.pdf
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Metadaten
Autoren/innen:Yury Shashev, Andreas Kupsch, Axel Lange, Sergei Evsevleev, Bernd R. Müller, Markus Osenberg, Ingo Manke, Manfred P. Hentschel, Giovanni Bruno
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Materials Testing
Jahr der Erstveröffentlichung:2017
Organisationseinheit der BAM:8 Zerstörungsfreie Prüfung
8 Zerstörungsfreie Prüfung / 8.5 Mikro-ZfP
Verlag:Hanser Verlag
Jahrgang/Band:59
Ausgabe/Heft:11-12
Erste Seite:974
Letzte Seite:980
DDC-Klassifikation:Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie
Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten
Freie Schlagwörter:Grating interferometry; Synchrotron, BAMline; Talbot-Lau interferometer; X-ray imaging; X-ray phase contrast; X-ray refraction
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM:Material
Material / Materialien und Stoffe
Analytical Sciences
Analytical Sciences / Zerstörungsfreie Prüfung und Spektroskopie
DOI:https://doi.org/10.3139/120.111097
URL:http://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcAuth=Alerting&SrcApp=Alerting&DestApp=WOS&DestLinkType=FullRecord;UT=WOS:000415695900005
ISSN:0025-5300
Verfügbarkeit des Volltexts:Volltext-PDF im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:17.11.2017
Referierte Publikation:Ja
Datum der Eintragung als referierte Publikation:07.12.2017