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Non destructive characterization in Additive manufacturing

  • An overview of non destructive characterisation in additively manufactured materials using computed tomography, refraction and diffraction based stress analysis

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  • Non destructive characterisation for AM AE BAM_IFW.pdf
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Autor*innen:Alexander Evans
Koautor*innen:Tobias Thiede, Tatiana Mishurova, Fabien Léonard, René Laquai, Alexander Ulbricht, Itziar Serrano Munoz, Bernd R. Müller, Giovanni Bruno
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Jahr der Erstveröffentlichung:2019
Organisationseinheit der BAM:8 Zerstörungsfreie Prüfung
8 Zerstörungsfreie Prüfung / 8.5 Röntgenbildgebung
DDC-Klassifikation:Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten
Freie Schlagwörter:Additive manufacturing; Computed tomography; Diffraction; Residual stress analysis; X-ray refraction
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM:Material
Material / Additive Fertigung
Veranstaltung:BAM-IFW workshop
Veranstaltungsort:IFW Dresden, Germany
Beginndatum der Veranstaltung:28.03.2019
Enddatum der Veranstaltung:28.03.2019
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:02.12.2019
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
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