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High resolution ToF-SIMS imaging of deuterium permeation and cracking in duplex stainless steels

  • Fundamental understanding and elucidation of hydrogen assisted degradation and trapping mechanisms is dependent on sufficient imaging techniques for respective hydrogen interactions, in particular with multi-phase metallic microstructures. The present work shows the progress in elucidating the deuterium behavior in austenitic-ferritic duplex stainless steels under the consideration that deuterium behaves in many ways similarly to hydrogen. A novel combination of deuterium permeation and in-situ Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) imaging technique is compared with post charging ToF-SIMS imaging experiments. As a step beyond state-of-the-art, integration of chemo-metric and high resolution structural characterization techniques with computational multivariate data analysis (MVA) and data fusion is presented.

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  • Jackson 2016 - Sobol - ThB_04042017.pdf
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Autor*innen:Oded SobolORCiD, Thomas Boellinghaus, Thomas Wirth, Wolfgang UngerORCiD, D. Eliezer
Dokumenttyp:Beitrag zu einem Tagungsband
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):2016 International Hydrogen Conference
Jahr der Erstveröffentlichung:2017
Verlag:ASME Press
Verlagsort:Two Park Ave. New-York, NY 10016, USA
Erste Seite:407
Letzte Seite:415
DDC-Klassifikation:Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten
Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Angewandte Physik
Freie Schlagwörter:DSS; Data-fusion; EBSD; ToF-SIMS
Veranstaltung:2016 International Hydrogen Conference
Veranstaltungsort:Grand Teton National Park, Jackson Lake Lodge, Wyoming, USA
Beginndatum der Veranstaltung:11.09.2016
Enddatum der Veranstaltung:14.09.2016
ISBN:978-0-7918-6138-7
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:13.11.2017
Referierte Publikation:Nein
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