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Achieving traceability of industrial computed tomography

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Autor*innen:M. Bartscher, M. Neukamm, U. Hilpert, U. Neuschaefer-Rube, F. Härtig, K. Kniel, Karsten Ehrig, Andreas Staude, Jürgen Goebbels
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Key engineering materials
Jahr der Erstveröffentlichung:2010
Verlag:Trans Tech Publ.
Verlagsort:Aedermannsdorf
Jahrgang/Band:437
Erste Seite:79
Letzte Seite:83
Freie Schlagwörter:Coordinate metrology; Industrial computed tomography (CT); Traceability
DOI:10.4028/www.scientific.net/KEM.437.79
ISSN:1013-9826
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:Sonderstandort: Publica-Schrank
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Ja
Datum der Eintragung als referierte Publikation:11.03.2010
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