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Zum Einfluss der Glasstruktur auf die dielektrischen Verluste oxidischer Gläser im Mikrowellenbereich

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Autor*innen:Markus Eberstein, Ulrich Banach
Dokumenttyp:Beitrag zu einem Tagungsband
Veröffentlichungsform:Graue Literatur
Sprache:Deutsch
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch):Kurzreferate / 77. Glastechnische Tagung
Jahr der Erstveröffentlichung:2003
Herausgeber (Institution):Deutsche Glastechnische Gesellschaft
Verlag:DGG
Verlagsort:Offenbach
Jahrgang/Band:77
Erste Seite:8
Letzte Seite:11
Veranstaltung:77. Glastechnische Tagung
Veranstaltungsort:Leipzig, Deutschland
Beginndatum der Veranstaltung:2003-05-26
Enddatum der Veranstaltung:2003-05-28
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:Sonderstandort: Publica-Schrank
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
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