Normale für die dimensionelle und analytische Nanometrologie
Autor*innen: | L. Koenders, T. Dziomba, P. Thomsen-Schmidt, Mathias Senoner |
---|---|
Dokumenttyp: | Zeitschriftenartikel |
Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
Sprache: | Deutsch |
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch): | PTB-Mitteilungen |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2004 |
Herausgeber (Institution): | Physikalisch-Technische Bundesanstalt |
Verlag: | Wirtschaftsverl. NW |
Verlagsort: | Bremerhaven |
Jahrgang/Band: | 114 |
Ausgabe/Heft: | 1 |
Erste Seite: | 16 |
Letzte Seite: | 24 |
Freie Schlagwörter: | Nanometrologie; Nanoschichten; Nanotechnologie; Oberflächenanalytik; Zertifiziertes Referenzmaterial |
ISSN: | 0030-834X |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access") |
Bibliotheksstandort: | Sonderstandort: Publica-Schrank |
Bibliotheksstandort: | ZA 9 |
Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
Referierte Publikation: | Nein |