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Charakterisierung von Microarrays durch Anwendung physikalischer Methoden der chemischen Oberflächenanalytik

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Autor*innen:Paul Dietrich, Wolfgang UngerORCiD
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Graue Literatur
Sprache:Deutsch
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch):Analytik News
Jahr der Erstveröffentlichung:2010
Verlag:Dr. Beyer Internet-Beratung
Verlagsort:Ober-Ramstadt
Erste Seite:1
Letzte Seite:11
Freie Schlagwörter:Aminierte Oberflächen; Microarrays; Oberflächenmodifizierungen; Self-assemblierende Monolagen; Thiole; ToF-SIMS; XPS
URL:http://www.analytik-news.de/Fachartikel/Volltext/BAM1.pdf
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:Sonderstandort: Publica-Schrank
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
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