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Improved quality of microarray platforms by using combined surface analytical tools (XPS, NEXAFS, ToF-SIMS, Water Contact Angle Goniometry)

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Autor*innen:Paul Dietrich
Koautor*innen:T. Horlacher, Thomas Gross, Thomas Wirth, R. Castelli, A.G. Shard, M. Alexander, P. H. Seeberger, Wolfgang UngerORCiD
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Deutsch
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch):13th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis ECASIA 09
Jahr der Erstveröffentlichung:2009
Veranstaltung:13th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis ECASIA 09
Veranstaltungsort:Antalya, Turkey
Beginndatum der Veranstaltung:2009-10-18
Enddatum der Veranstaltung:2009-10-23
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
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