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Absolut messendes EFPI-Messsystem

  • In diesem Paper wird ein absolut messendes faseroptisches Messsystem zur Bestimmung des Gap-Abstandes von niedrig reflektierenden losen und festen extrinsischer Fabry-Pérot Interferometer (EFPI) vorgestellt. Die häufigste Methode zur Bestimmung von Dehnungen oder Bewegungen durch EFPI-Sensoren ist eine kontinuierliche relative Ermittlung einer Veränderung mit einer nachträglichen Auswertung. Unterbrechungen in der Datenerfassung oder Fehler bei der Interferenzstreifen-Auswertung führen zu einer nicht abschätzbaren Messunsicherheit. Damit war es bis dato nicht möglich, eine absolute Veränderung von eingesetzten EFPI-Sensoren zu bestimmen. Mit dem an der BAM entwickelten Verfahren, ist dies jetzt möglich, die absolute Veränderung zu bestimmen. Dieses System namens 'EFPI-Scan' wird in dem Papier dargestellt werden.

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Autoren/innen:Enrico Köppe, Detlef Hofmann, Werner Daum
Dokumenttyp:Beitrag zu einem Tagungsband
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Deutsch
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch):Sensoren und Messsysteme 2014 - 17. ITG/GMA-Fachtagung
Jahr der Erstveröffentlichung:2014
Organisationseinheit der BAM:8 Zerstörungsfreie Prüfung
8 Zerstörungsfreie Prüfung / 8.1 Sensorik, mess- und prüftechnische Verfahren
8 Zerstörungsfreie Prüfung / 8.6 Faseroptische Sensorik
Herausgeber (Institution):Informationstechnische Gesellschaft im VDE (ITG); VDI/VDE-Gesellschaft Mess- und Automatisierungstechnik (GMA)
Verlag:VDE Verlag GmbH
Jahrgang/Band:250
Erste Seite:P16.2, 1
Letzte Seite:3
Veranstaltung:Sensoren und Messsysteme 2014 - 17. ITG/GMA-Fachtagung
Veranstaltungsort:Nürnberg, Germany
Beginndatum der Veranstaltung:03.06.2014
Enddatum der Veranstaltung:04.06.2014
ISSN:0932-6022
ISBN:978-3-8007-3622-5
Bemerkung:
Serientitel: ITG-Fachbericht – Series title: ITG-Fachbericht
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:20.02.2016
Referierte Publikation:Nein