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ICP-MS analysis of high purity molybdenum used as SI-traceable standard of high metrological quality

  • The need, concept and technical approach for the certification of SI-traceable standards of high metrological quality for chemical analysis of the elements is briefly explained. As an example of problems occurring in the certification of these standards, special technical aspects related to the analysis of high purity Mo by ICP-MS, namely blank reduction for Na, Li and Ni by protective coating of the cones with silicon, as well as dealing with the interferences from the Mo matrix, are discussed.

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Metadaten
Autor*innen:Heinrich Kipphardt, Michael Czerwensky, Ralf MatschatORCiD
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Journal of analytical atomic spectrometry
Jahr der Erstveröffentlichung:2005
Verlag:Royal Society of Chemistry
Verlagsort:London
Jahrgang/Band:20
Ausgabe/Heft:1
Erste Seite:28
Letzte Seite:34
URL:http://cat.inist.fr/?aModele=afficheN&cpsidt=16469686
ISSN:0267-9477
ISSN:1364-5544
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:Sonderstandort: Publica-Schrank
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Ja
Datum der Eintragung als referierte Publikation:03.01.2005
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