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SRXRF-measurements at non-planar objects: automatic determination of the angle of incidence of the exciting X-ray

  • For quantitative SRXRF measurements the angle of incidence of the incoming X-ray beam is an important factor. When the sample is focused by a long-range-microscope, the determination of the angle can be automatized using a simple algorithm. This was developed to improve the orientation of especially round or ornate samples. As a side effect the three dimensional surface can be reconstructed, too.

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Autor*innen:Christian Grunewald, Martin RadtkeORCiD, Uwe Reinholz, Günter Buzanich, Heinrich Riesemeier
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Journal of analytical atomic spectrometry
Jahr der Erstveröffentlichung:2011
Verlag:Royal Society of Chemistry
Verlagsort:London
Jahrgang/Band:26
Ausgabe/Heft:5
Erste Seite:1088
Letzte Seite:1089
Freie Schlagwörter:Long-range microscope; Synchrotron radiation; X-ray fluorescence
DOI:10.1039/c0ja00237b
ISSN:0267-9477
ISSN:1364-5544
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Ja
Datum der Eintragung als referierte Publikation:08.02.2011
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