SRXRF-measurements at non-planar objects: automatic determination of the angle of incidence of the exciting X-ray
- For quantitative SRXRF measurements the angle of incidence of the incoming X-ray beam is an important factor. When the sample is focused by a long-range-microscope, the determination of the angle can be automatized using a simple algorithm. This was developed to improve the orientation of especially round or ornate samples. As a side effect the three dimensional surface can be reconstructed, too.
Autor*innen: | Christian Grunewald, Martin RadtkeORCiD, Uwe Reinholz, Günter Buzanich, Heinrich Riesemeier |
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Dokumenttyp: | Zeitschriftenartikel |
Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
Sprache: | Englisch |
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Journal of analytical atomic spectrometry |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2011 |
Verlag: | Royal Society of Chemistry |
Verlagsort: | London |
Jahrgang/Band: | 26 |
Ausgabe/Heft: | 5 |
Erste Seite: | 1088 |
Letzte Seite: | 1089 |
Freie Schlagwörter: | Long-range microscope; Synchrotron radiation; X-ray fluorescence |
DOI: | 10.1039/c0ja00237b |
ISSN: | 0267-9477 |
ISSN: | 1364-5544 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access") |
Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
Referierte Publikation: | Ja |
Datum der Eintragung als referierte Publikation: | 08.02.2011 |