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Time of flight diffraction (ToFD) with THz radiation - an alternative to the ultra sound - ToFD technique for non-metallic materials

  • A time domain spectrometer in the range of 0.5–2 THz was used for time of flight (ToF) measurements of THz pulses for imperfection detection in non metallic materials. The measurements were performed in comparison to the established ultra sound pulse echo (PE) and time of flight diffraction (ToFD) technique. No coupling agent and no contact to the surface is required for THz ToFD measurements. Plastic test specimen with notches, voids and drilled side holes were used to study reflected and diffracted response signals. No major differences were observed between the UT and THz ToFD records for the first surface of the notches, voids and holes. Additionally to the UT records also signals were obtained from its back side and a second raw of holes. The THz measurement is fast and has the potential to substitute UT applications in some industrial areas. Within the German project 'Handheld' the potential for miniaturization of the time domain equipment is explored for efficient application.

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Autor*innen:Uwe Ewert, Jörg Beckmann, Lars von Chrzanowski, Gerhard Brekow, Daniel Brackrock
Dokumenttyp:Beitrag zu einem Tagungsband
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):AIP Conference proceedings 1335
Jahr der Erstveröffentlichung:2011
Verlag:American Institute of Physics
Verlagsort:Melville, NY, USA
Jahrgang/Band:1335
Erste Seite:541
Letzte Seite:548
Freie Schlagwörter:Acoustic signal processing; Non destructive testing; Polymers; Spectrometers; Terahertz time domain spectroscopy; Time of flight diffraction; Ultrasonic; Ultrasonic diffraction; Voids (solid)
DOI:10.1063/1.3591898
ISSN:0094-243X
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Ja
Datum der Eintragung als referierte Publikation:23.06.2011
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