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Femtosecond laser damage in dielectric coatings

  • Multi-shot investigations of Ti:sapphire laser (wavelength (lambda) approximately equals 800 nm) induced damage were performed in three different laboratories (BAM, Berlin; LZH, Hannover; UNM, Albuquerque). The ablation behavior of a high reflecting mirror consisting of alternating (lambda) /4- layers of Ta2O5 and SiO2 was studied. Fused silica served as substrate. The influence of the pulse duration ((tau) equals 13 - 130 fs), the pulse number (30 - (infinity) ) and the repetition rate (10 Hz - 100 MHz) on the damage threshold will be discussed.

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Metadaten
Autoren/innen:Jörn Bonse, Steffen Baudach, Jörg Krüger, Wolfgang Kautek
Persönliche Herausgeber/innen:G. Exarhos
Dokumenttyp:Beitrag zu einem Sammelband
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Laser-induced damage in optical materials - 2000
Jahr der Erstveröffentlichung:2001
Herausgeber (Institution):Lawrence Livermore National Laboratory
Verlag:International Society for Optical Engineering (SPIE)
Verlagsort:Bellingham, Wash.
Ausgabe/Heft:4347
Erste Seite:24
Letzte Seite:34
Veranstaltung:32nd Annual Boulder Damage Symposium
Veranstaltungsort:Boulder, CO, USA
Beginndatum der Veranstaltung:2000-10-16
Enddatum der Veranstaltung:2000-10-18
DOI:https://doi.org/10.1117/12.425056
ISSN:1605-7422
ISBN:0-8194-4036-1
Bemerkung:
Serientitel: SPIE proceedings series – Series title: SPIE proceedings series
Verfügbarkeit des Volltexts:Papiergebundenes Belegexemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hard-copy Access")
Bibliotheksstandort:Sonderstandort: Publica-Schrank
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein