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Quantitative phase analysis using the Rietveld method - Estimates of accuracy and possible problems based on two interlaboratory comparisons

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Autor*innen:Burkhard Peplinski, R. Kleeberg, J. Bergmann, J. Wenzel
Persönliche Herausgeber*innen:Y. Andersson, E. Mittemeijer, U. Welzel
Dokumenttyp:Beitrag zu einem Sammelband
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Proceedings of the eighth European powder diffraction conference
Jahr der Erstveröffentlichung:2004
Herausgeber (Institution):EPDIC
Verlag:Trans Tech Publ.
Verlagsort:Uetikon-Zuerich
Ausgabe/Heft:443-444
Erste Seite:45
Letzte Seite:50
Freie Schlagwörter:Interlaboratory Comparison; Quantitative Phase Analysis QPA; Reference Materials; Refinement Strategy; Rietveld Analysis; Round Robin; Silicon Nitride
Veranstaltung:8th European Powder Diffraction Conference
Veranstaltungsort:Uppsala, Sweden
Beginndatum der Veranstaltung:2002-05-23
Enddatum der Veranstaltung:2002-05-23
ISSN:0255-5476
ISBN:0-87849-935-0
Bemerkung:
Serientitel: Materials science forum – Series title: Materials science forum
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:Sonderstandort: Publica-Schrank
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
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