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Pushing the limits for fast spatially resolved elemental distribution patterns

  • A new setup for fast spatially resolved measurements of elemental trace amounts under total reflection conditions using a new colour X-ray camera is described. Samples prepared on conventional total reflection X-ray fluorescence (TXRF) reflectors were measured at BESSY II synchrotron. A spatial resolution of 50 × 50 µm² was obtained, while the required time for the investigation of a 10 × 10 mm² sample is 30 seconds. The set-up is up to 350 times faster than conventional X-ray fluorescence systems for elemental traces. The major components of the X-ray camera are polycapillary optics and a pn-CCD chip with an active area of 13 × 13 mm². This area is divided into 264 × 264 pixels of 48 × 48 µm². A full X-ray spectrum with a resolution of 152 eV @ 5.9 keV and a chip temperature of 246 K is recorded for each pixel. The chip has a read-out rate of 400 Hz.

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Autor*innen:Andreas Kühn, Oliver Scharf, I. Ordavo, Heinrich Riesemeier, Uwe Reinholz, Martin RadtkeORCiD, Achim Berger, Markus OstermannORCiD, Ulrich PanneORCiD
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Journal of analytical atomic spectrometry
Jahr der Erstveröffentlichung:2011
Verlag:Royal Society of Chemistry
Verlagsort:London
Jahrgang/Band:26
Erste Seite:1986
Letzte Seite:1989
DOI:10.1039/c1ja10069f
ISSN:0267-9477
ISSN:1364-5544
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Ja
Datum der Eintragung als referierte Publikation:28.09.2011
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