MetadatenAutor*innen: | Uwe Ewert, Uwe ZscherpelORCiD, Jörg Beckmann, K. Bavendiek |
---|
Dokumenttyp: | Beitrag zu einem Tagungsband |
---|
Veröffentlichungsform: | Graue Literatur |
---|
Sprache: | Englisch |
---|
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | MINDTCE `09 - Malaysia international NDT conference and exhibiton `09 - NDT Driving industry safety, growth and performance (Proceedings) |
---|
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2009 |
---|
Herausgeber (Institution): | Malaysian Society for non-destructive testing |
---|
Erste Seite: | 181 |
---|
Letzte Seite: | 189 |
---|
Freie Schlagwörter: | Computed radiography; Contrast sensitivity; Digital detector arrays; Film replacement; Imaging plates; Radiography; SNR; standards |
---|
Veranstaltung: | MINDTCE `09 - Malaysia international NDT conference and exhibiton `09 - NDT Driving industry safety, growth and performance |
---|
Veranstaltungsort: | Kuala Lumpur, Malaysia |
---|
Beginndatum der Veranstaltung: | 2009-07-20 |
---|
Enddatum der Veranstaltung: | 2009-07-21 |
---|
Verfügbarkeit des Dokuments: | Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access") |
---|
Bibliotheksstandort: | Sonderstandort: Publica-Schrank |
---|
Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
---|
Referierte Publikation: | Nein |
---|