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Imaging of Impurities and Imperfections, Micro- and Nanoscaled Pattern on Surfaces and in Thin Films

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Autor*innen:Uwe Beck
Koautor*innen:Jennifa Baier, Andreas Hertwig, Mario Sahre, Matthias Weise, Jörg M. Stockmann
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Deutsch
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch):SVC
Jahr der Erstveröffentlichung:2015
Veranstaltung:SVC
Veranstaltungsort:Santa Clara, CA, USA
Beginndatum der Veranstaltung:2015-04-25
Enddatum der Veranstaltung:2015-04-30
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:20.02.2016
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
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