Ellipsometry and Standardisation - A Publicly Available Specification (PAS) for Ellipsometry, Measurement of Reference Coatings and Non-ideal Samples
MetadatenAutor*innen: | Uwe Beck, Marion Männ |
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Persönliche Herausgeber*innen: | M. Fried |
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Dokumenttyp: | Beitrag zu einem Tagungsband |
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Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
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Sprache: | Englisch |
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Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Proceedings of the 3rd International Conference on Spectroscopic Ellipsometry (Thin solid films 455/456.2004) |
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Jahr der Erstveröffentlichung: | 2003 |
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Verlag: | Elsevier |
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Verlagsort: | Amsterdam |
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Jahrgang/Band: | 455-456 |
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Erste Seite: | 1(?) |
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Veranstaltung: | 3rd International Conference on Spectroscopic Ellipsometry |
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Veranstaltungsort: | Vienna, Austria |
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Beginndatum der Veranstaltung: | 2003-07-06 |
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Enddatum der Veranstaltung: | 2003-07-11 |
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ISSN: | 0040-6090 |
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Verfügbarkeit des Dokuments: | Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access") |
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Bibliotheksstandort: | Sonderstandort: Publica-Schrank |
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Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
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Referierte Publikation: | Nein |
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