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Ellipsometry and Standardisation - A Publicly Available Specification (PAS) for Ellipsometry, Measurement of Reference Coatings and Non-ideal Samples

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Autor*innen:Uwe Beck, Marion Männ
Persönliche Herausgeber*innen:M. Fried
Dokumenttyp:Beitrag zu einem Tagungsband
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Proceedings of the 3rd International Conference on Spectroscopic Ellipsometry (Thin solid films 455/456.2004)
Jahr der Erstveröffentlichung:2003
Verlag:Elsevier
Verlagsort:Amsterdam
Jahrgang/Band:455-456
Erste Seite:1(?)
Veranstaltung:3rd International Conference on Spectroscopic Ellipsometry
Veranstaltungsort:Vienna, Austria
Beginndatum der Veranstaltung:2003-07-06
Enddatum der Veranstaltung:2003-07-11
ISSN:0040-6090
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:Sonderstandort: Publica-Schrank
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
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