A VUV-XUV ellipsometric setup at BESSY II: Optical characterisation of Nitride Semiconductors
Autor*innen: | Uwe Beck |
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Koautor*innen: | C. Cobet, M. Rakel, T Schmidtling, W. Richter, N. Esser, B. Gruska |
Dokumenttyp: | Posterpräsentation |
Veröffentlichungsform: | Präsentation |
Sprache: | Englisch |
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | 3rd International Conference on Spectroscopic Ellipsometry |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2003 |
Veranstaltung: | 3rd International Conference on Spectroscopic Ellipsometry |
Veranstaltungsort: | Vienna, Austria |
Beginndatum der Veranstaltung: | 2003-07-06 |
Enddatum der Veranstaltung: | 2003-07-11 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access") |
Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
Referierte Publikation: | Nein |