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Damage Analysis of Coating/Substrate Systems - Multiprobe Techniques for the Evaluation of Defects and Surface Topography from the Micrometer- to the Nanometer-Range

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Autor*innen:Steffen Baudach, Uwe Beck, Jürgen Arndt
Persönliche Herausgeber*innen:G. Bräuer
Dokumenttyp:Beitrag zu einem Tagungsband
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Proceedings of the Eight International Conference on Plasma Surface Engineering (Surface & coatings technology 174/175.2003)
Jahr der Erstveröffentlichung:2002
Verlag:Elsevier
Verlagsort:Amsterdam
Jahrgang/Band:174-175
Ausgabe/Heft:TuPSC25
Erste Seite:265
Veranstaltung:8th International Conference on Plasma Surface Engineering (PSE)
Veranstaltungsort:Garmisch-Partenkirchen, Germany
Beginndatum der Veranstaltung:2002-09-09
Enddatum der Veranstaltung:2002-09-13
ISSN:0257-8972
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:Sonderstandort: Publica-Schrank
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
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