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Microstrain distributions in polycrystalline thin films measured by X-ray microdiffraction

  • Microstrain distributions were acquired in functional thin films by high-resolution X-ray microdiffraction measurements, using polycrystalline CuInSe2 thin films as a model system. This technique not only provides spatial resolutions at the submicrometre scale but also allows for analysis of thin films buried within a complete solar-cell stack. The microstrain values within individual CuInSe2 grains were determined to be of the order of 10^-4. These values confirmed corresponding microstrain distribution maps obtained on the same CuInSe2 layer by electron backscatter diffraction and Raman microspectroscopy.
Metadaten
Autor*innen:N. Schäfer, G. A. Chahine, A. J. Wilkinson, Thomas SchmidORCiD, T. Rissom, T. U. Schülli, D. Abou-Ras
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Journal of Applied Crystallography
Jahr der Erstveröffentlichung:2016
Veröffentlichende Institution:Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)
Jahrgang/Band:49
Erste Seite:632
Letzte Seite:635
DDC-Klassifikation:Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie
Freie Schlagwörter:Microstrain distribution; Polycrystalline thin films; Raman microscopy; X-ray microdiffraction
DOI:10.1107/S1600576716003204
URN:urn:nbn:de:kobv:b43-366592
ISSN:1600-5767
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei für die Öffentlichkeit verfügbar ("Open Access")
Lizenz (Deutsch):License LogoCreative Commons - Namensnennung-Weitergabe unter gleichen Bedingungen
Datum der Freischaltung:27.06.2016
Referierte Publikation:Ja
Datum der Eintragung als referierte Publikation:27.06.2016
Schriftenreihen ohne Nummerierung:Wissenschaftliche Artikel der BAM
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