• Treffer 6 von 0
Zurück zur Trefferliste

Orientation-distribution mapping of polycrystalline materials by Raman microspectroscopy

  • Raman microspectroscopy provides the means to obtain local orientations on polycrystalline materials at the submicrometer level. The present work demonstrates how orientation-distribution maps composed of Raman intensity distributions can be acquired on large areas of several hundreds of square micrometers. A polycrystalline CuInSe2 thin film was used as a model system. The orientation distributions are evidenced by corresponding measurements using electron backscatter diffraction (EBSD) on the same identical specimen positions. The quantitative, local orientation information obtained by means of EBSD was used to calculate the theoretical Raman intensities for specific grain orientations, which agree well with the experimental values. The presented approach establishes new horizons for Raman microspectroscopy as a tool for quantitative, microstructural analysis at submicrometer resolution.

Volltext Dateien herunterladen

  • Schmidt_Orientation-distribution mapping of polycrystalline materials by Raman microspectroscopy.pdf
    eng

Metadaten exportieren

Weitere Dienste

Teilen auf Twitter Suche bei Google Scholar Anzahl der Zugriffe auf dieses Dokument
Metadaten
Autor*innen:Thomas SchmidORCiD, N. Schäfer, S. Levcenko, T. Rissom, D. Abou-Ras
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Scientific reports
Jahr der Erstveröffentlichung:2015
Verlag:Nature Publishing Group
Verlagsort:London
Jahrgang/Band:5
Erste Seite:Article 18410, 1
Letzte Seite:7
DOI:10.1038/srep18410
ISSN:2045-2322
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:20.02.2016
Referierte Publikation:Ja
Datum der Eintragung als referierte Publikation:07.01.2016
Einverstanden
Diese Webseite verwendet technisch erforderliche Session-Cookies. Durch die weitere Nutzung der Webseite stimmen Sie diesem zu. Unsere Datenschutzerklärung finden Sie hier.