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Transmission and Scanning Electron Microscopy (SEM/TEM)

  • Die Bestimmung der Nanopartikelgrößen- und -formverteilung nach OECD TG 125 mit der Transmission and Scanning Electron Microscopy (SEM/TEM) wird punktuell vorgestellt: - Generelles Messprinzip - Beispiele - Korrelative Mikroskopie - Welchen Durchmesser misst die Methode? - Welche Partikel kann diese Methode messen? - Welche Informationen kann diese Methode liefern? - Wo stößt die Methode an ihre Grenzen? - Implementierung und Datenauswertung, - Reporting. Anschließend wurde eine Q&A-Session für die Imaging-Methoden organisiert.

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Metadaten
Autor*innen:Vasile-Dan HodoroabaORCiD
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Jahr der Erstveröffentlichung:2023
Organisationseinheit der BAM:6 Materialchemie
6 Materialchemie / 6.1 Oberflächen- und Dünnschichtanalyse
DDC-Klassifikation:Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten
Freie Schlagwörter:Elektronenmikroskopie; Partikelgrößenverteilung
Nanoparticles; OECD TG 125
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM:Material
Material / Nano
Veranstaltung:Digital Info-Days „Nano or not Nano“ - Measuring according to OECD Test Guideline No. 125
Veranstaltungsort:Online meeting
Beginndatum der Veranstaltung:16.02.2023
Enddatum der Veranstaltung:17.02.2023
URL:https://www.bam-akademie.de/kursangebot/kurs/digitale-info-tage-%E2%80%9Enano-or-not-nano%E2%80%9C-19.html
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:27.03.2023
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
Einverstanden
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