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(hard) x ray photoelectron spectroscopy as tool in nano-analytics

  • Selected samples are used to show, that photoelectron spectroscopy is an important tool for measuring nano-objects, especially for determing the chemical composition and structure on the nanosacle. XPS with different energies offers new possibilities in depth-profiling.

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Autor*innen:Jörg Radnik
Koautor*innen:Jörg Manfred Stockmann, Xenia Knigge, Giovanni Chemello, Vasile-Dan Hodoroaba, Ute Resch-Genger, S. Madkour, Andreas Schönhals, B. Reed, C. Clifford, A. Shard
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Jahr der Erstveröffentlichung:2024
Organisationseinheit der BAM:6 Materialchemie
6 Materialchemie / 6.1 Oberflächen- und Dünnschichtanalyse
DDC-Klassifikation:Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten
Freie Schlagwörter:Core-shell nanoparticle; Graphene related 2D materials; X-ray photoelectron spectroscopy
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM:Material
Material / Nano
Veranstaltung:SFB 1073 Colloquium
Veranstaltungsort:Göttingen, Germany
Beginndatum der Veranstaltung:22.02.2024
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:04.03.2024
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
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