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How to perform reliable xps-measurements?

  • Reliable measurements are a great challenge in X-ray photoelectron spectroscopy. It will be shown, how to check the performance and calibration of the instrument, the charge compensation, quantification, fitting, and depth profiling.

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Metadaten
Autor*innen:Jörg Radnik
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Jahr der Erstveröffentlichung:2024
Organisationseinheit der BAM:6 Materialchemie
6 Materialchemie / 6.1 Oberflächen- und Dünnschichtanalyse
DDC-Klassifikation:Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten
Freie Schlagwörter:Reliability; Reproducibility crisis; X-ray photoelectron spectroscopy
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM:Material
Material / Nano
Veranstaltung:Course for PhD students at SFB 1073
Veranstaltungsort:Göttingen, Germany
Beginndatum der Veranstaltung:23.02.2024
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:04.03.2024
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
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