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Measurement of atomic fractions in Cu(In, Ga)Se2 films by Auger Electron Spectroscopy (AES) und Energy Dispersive Electron Probe Microanalysis (ED-EPMA)

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Autor*innen:Vasile-Dan HodoroabaORCiD
Koautor*innen:Thomas Wirth, R. Terborg, K. Y. Kim, Wolfgang UngerORCiD
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Deutsch
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch):Microscopy and Microanalysis M&M 2014
Jahr der Erstveröffentlichung:2014
Veranstaltung:Microscopy and Microanalysis M&M 2014
Veranstaltungsort:Hartford, CT, USA
Beginndatum der Veranstaltung:2014-08-02
Enddatum der Veranstaltung:2014-08-07
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:20.02.2016
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
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