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Morphological and chemical characterization of engineered TiO2 NPs and assembled films - an excerpt from the EC/FP7 project SETNanoMetro

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Autor*innen:Vasile-Dan HodoroabaORCiD
Koautor*innen:Erik Ortel, A. M. Rossi
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Deutsch
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch):CCQM - Surface and Micro/Nano Analysis Working Group (SAWG) Meeting for 2015
Jahr der Erstveröffentlichung:2015
Veranstaltung:CCQM - Surface and Micro/Nano Analysis Working Group (SAWG) Meeting for 2015
Veranstaltungsort:BIPM, Sévres, Paris, France
Beginndatum der Veranstaltung:2015-04-17
Enddatum der Veranstaltung:2015-04-17
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:20.02.2016
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
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