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Development and application of an universal CAT-scanner

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Autor*innen:Heinrich Heidt, Jürgen Goebbels, Peter Reimers, A. Kettschau
Persönliche Herausgeber*innen:J. K. Aman
Dokumenttyp:Beitrag zu einem Tagungsband
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Proceedings of the 11th World Conference on Nondestructive Testing
Jahr der Erstveröffentlichung:1985
Verlag:Taylor Publ.
Verlagsort:Dallas, Tex
Erste Seite:664
Letzte Seite:671
Veranstaltung:11th World Conference on Nondestructive Testing
Veranstaltungsort:Las Vegas, NV, USA
Beginndatum der Veranstaltung:1985-11-03
Enddatum der Veranstaltung:1985-11-08
ISBN:0-931403-07-3
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:ZM 54/32:1985/190
Datum der Freischaltung:20.02.2016
Referierte Publikation:Nein
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