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Morphology Analysis of Graphene Oxide Flakes with SEM - Preparation of an Inter-Laboratory Comparison @VAMAS

  • Experience gained at BAM within the European project ISGScope on the accurate measureemnt of graphene oxide flakes by electron microscopy is presented. Particularly, factors such as the type of solvent, substrate temperature, but also proper, gentle measurement parameters and image analysis conditions towards automation are highlighted. The measurement procedures in develeopment are being prepared to launch an inter-laboratory comparison under VAMAS (TWA41) as preparatory guidance for future standardisation at ISO.

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  • GO-Prese_BAM ISO-TC229_MeetingNov2022.pdf
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Autor*innen:Vasile-Dan HodoroabaORCiD
Koautor*innen:Giovanni Chemello, Jörg Radnik
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Jahr der Erstveröffentlichung:2022
Organisationseinheit der BAM:6 Materialchemie
6 Materialchemie / 6.1 Oberflächen- und Dünnschichtanalyse
DDC-Klassifikation:Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten
Freie Schlagwörter:Graphene oxide flakes; ISOGScope; Morphology; SEM; Sample preparation; Standardisation; VAMAS
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM:Material
Material / Nano
Veranstaltung:ISO/TC 229 Nanotechnologies Plenary Meeting - Graphene Standardisation
Veranstaltungsort:Teddington, UK
Beginndatum der Veranstaltung:14.11.2022
Enddatum der Veranstaltung:18.11.2022
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:17.11.2022
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
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