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X-Ray Scattering and its Benefit for X-Ray Spectrometry at the SEM

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Metadaten
Autor*innen:Vasile-Dan HodoroabaORCiD
Koautor*innen:Vanessa Rackwitz, Dirk Reuter
Dokumenttyp:Posterpräsentation
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Deutsch
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch):Microscopy & Microanalysis
Jahr der Erstveröffentlichung:2009
Veranstaltung:Microscopy & Microanalysis
Veranstaltungsort:Richmond, VA, USA
Beginndatum der Veranstaltung:2009-07-26
Enddatum der Veranstaltung:2009-09-30
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
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