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Optical constants of In2O3-SnO2 (Indium tin oxide, ITO)

  • Optical constants of In2O3-SnO2 (Indium tin oxide, ITO) Minenkov et al. 2024: on glass; n,k 0.191–1.69 µm Optical constants of In2O3-SnO2 (Indium tin oxide, ITO) Minenkov et al. 2024: on Si wafer, top; n,k 0.191–1.69 µm Optical constants of In2O3-SnO2 (Indium tin oxide, ITO) Minenkov et al. 2024: on Si wafer, bottom; n,k 0.191–1.69 µm

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Autor*innen:Manuela SchiekORCiD, Alexey Minenkov, Sophia Hollweger, Jiri Duchoslav, Otgonbayar Erdene-Ochir, Matthias Weise, Elena Ermilova, Andreas HertwigORCiD
Dokumenttyp:Forschungsdatensatz
Veröffentlichungsform:Graue Literatur
Sprache:Englisch
Jahr der Erstveröffentlichung:2024
Organisationseinheit der BAM:6 Materialchemie
6 Materialchemie / 6.1 Oberflächen- und Dünnschichtanalyse
Herausgeber (Institution):Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)
Verlag:Refractiveindex.info
Freie Schlagwörter:Electrochemical Degradation; Indium Tin Oxide; Magnetron Sputtering; Optical constants; Spectroscopic Ellipsometry
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM:Material
Material / Nano
Art der Ressource:Datensatz
Ort der Datenerhebung:Berlin, Germany; Linz, Austria
URL:https://refractiveindex.info/?shelf=other&book=In2O3-SnO2&page=Minenkov-glass
URL:https://refractiveindex.info/?shelf=other&book=In2O3-SnO2&page=Minenkov-wafer-top
URL:https://refractiveindex.info/?shelf=other&book=In2O3-SnO2&page=Minenkov-wafer-bottom
Zugehöriger Identifikator:https://doi.org/10.1021/acsami.3c17923
Beschreibung der Datei(en) :Refractive index of ITO thin layers on different substrates, determined by means of spectroscopic multiangle ellipsometry in the wavelength range between 192 nm and 1692 nm.
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei für die Öffentlichkeit verfügbar ("Open Access")
Lizenz (Deutsch):License LogoCreative Commons - CC0 1.0 - Universell - Public Domain Dedication
Datum der Freischaltung:28.03.2024
Referierte Publikation:Nein
Schriftenreihen ohne Nummerierung:Forschungsdatensätze der BAM
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